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                TO老化測試

                /cn/index_766.aspx

                普賽斯針對TO老化 測試分選有完備的測試方案,完美支持發端DFB/TEC-DFB/EML TO的老化測試分選,需要老化的APD端的老化測試分選以及不需要老化的PIN-TIA測試分選。能夠實現全流程的效率匹配以及數據庫統一,極大的減少了員工數量要求以及設備數據庫,網絡維護的要求。能夠有效的提升TO生產的效率和可靠性。具體的生產方案如下。

                LD TO老化測試分選解決方案

                APD-TIA TO老化測試分選解決方案

                PIN-TIA TO測試分選方案


                方案特點


                1. LD/APD盤測機LD/APD老化設備,老化板相互兼容。整個過程不需要重新插拔物料

                2. LD盤測LD老化設備,均支持軟件任意封裝的引腳切換。能夠實現一個老化板,兼容多種不同封裝的TO,節省老化板的費用

                3. LD盤測設備,支持高溫測試,有效滿足25G工業級TO的測試要求

                4. LD/APD老化設備最高支持3072 PCS老化規模

                5. 老化和測試系統都具備完備的數據管理系統,支持本地數據庫,遠程SQL數據庫。數據庫之間數據相互關聯,能夠有效支持后端自動分選工藝數據要求

                6. PIN-TIA測試分選一體機專門針對不做老化的PIN-TIA器件,支持封帽料盒以及輸出塑料收納盒。直接完成封帽到出貨之間的所有工藝流程。極大提高效率和生產自動化水平


                方案詳情

                測試方案

                設備名稱

                型號

                設備特點

                LD老化測試

                TO56盤測機

                PSS PAT-56-D

                支持任意引腳封裝,軟件切換腳位


                支持本地與遠程SQL數據庫
                支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
                豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)


                TO56高溫盤測機

                PSS PAT-56-H1


                支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
                支持本地與遠程SQL數據庫
                支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
                豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)
                支持常溫和高溫測試(RT+20~95°C)


                EML TO盤測機

                PSS PAT-56-EML


                支持DFB/EML/SOA-EML/TEC-DFB TO測試
                支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
                支持本地與遠程SQL數據庫
                支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
                豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)
                支持ACR/焦距測試


                LD集成式老化系統

                PSS LDBI3002


                支持3072老化規模,最高支持250mA電流
                支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
                支持本地與遠程SQL數據庫
                支持實時LD電壓,Im讀取功能
                支持Ith(背光)測試功能,可提供多次對比測試結果以及合格判定條件設置
                支持MES系統接口


                APD老化測試

                TO46盤測試機

                PSS PAT-46-D


                支持APD/PIN-TIA器件,任意引腳封裝,軟件切換腳位
                支持本地與遠程SQL數據庫
                支持APD/PIN Idark測試
                支持調制光模式下D+/D-的動態波形測試


                APD集成式集成式老化系統

                PSS APDBI3001


                支持3072老化規模,APD老化電流最高可到2mA
                支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
                支持本地與遠程SQL數據庫
                支持實時APD電壓,TIA電流讀取功能
                支持MES系統接口


                PIN-TIA測試分選

                探測機組件測試分選一體機

                PSS RTP2101

                支持封帽料盒進料,塑料收納盒出料


                支持客戶自定義的分BIN篩選
                完善的圖像識別處理,有效識別管腳位置并分腳,插料
                支持PIN-TIA/APD-TIA各種測試指標,包括調制光模式下D+/D-的動態波形測試
                全自動,無人值守,UPH=550(典型值,需要測試RES耦光),UPH=800(典型值,不耦光)



                • 027-89908766 027- 86638669

                • pss@whprecise.com
                • 武漢東湖開發區 光谷大道308號 光谷動力綠色環保產業園 9棟4樓

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