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                PSS CPON01001

                /cn/info_496.aspx?itemid=231

                普賽斯Combo PON器件性能綜合測試系統是模擬了Combo PON器件實際復雜的應用環境,自動快速測試Combo PON器件22收近40多種性能參數的測試系統。一鍵完成1490nm 2.5G DFB器件發射和1577nm 10G EML器件發射的LIV綜合測試,1310nm1270nmAPD器件或者PIN TIA器件的靈敏度和響應度測試,支持內部光路的隔離度和光串擾測試,全面評估Combo PON器件參數指標,真實反映器件的性能。整套系統方案還設計了配套的測試夾具。

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