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CHIP TESTER

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  本設備應用于光芯片 LD-CHIP 高溫/常溫 LIV 測試、SMSR 測試及背光抽測并對不同測試結果進行歸類分檔篩選。芯片 wafer 藍膜上料,CHIP-ID 自動識別記憶匹配測試,通過藍膜頂針剝離機構,吸嘴吸取,機械手分別搬運到高溫及常溫測試區域,自動擺位,自動給電,收集發光參數,分析篩選,機械手搬運分檔歸類。此設備具有高速、高精度特點,實現了復雜時序、嚴密邏輯的工藝過程。設備采用了偏心凸輪驅動、連桿及精密夾具等機構,配合多軸運動、視覺定位、視覺字符匹配等技術,具有批量生產能力。 

 

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